Profili a non-contatto


Luphos
Offering ultra-precise non-contact distance measurement for highest demand in industrial fabrication, quality control and sientific research. The core technology is the multiwavelength interferometry (MWLI®) uniquely offered by Luphos.

Produzione e ricerca
Questa gamma di strumenti metrologici senza contatto comprende CCI HD e CCI MP-HS. Questi strumenti versatili sono particolarmente adatti ai settori della produzione e della ricerca, dove è necessaria un'analisi del profilo 3D ad alta precisione.

Zygo
Optical profilers from ZYGO are white light interferometer systems, offering fast, non-contact, high-precision 3D metrology of surface features. All of Zygo optical profilers include proprietary data analysis and system control software.