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CCI MP-HS
CCI HD
CCI MP-HS
Qualunque sia il componente, a prescindere da quanto velocemente deve avvenire l'analisi, l'affidabilità dei risultati della misurazione areale 3D sono assicurati grazie al rivoluzionario profilometro ottico senza contatto CCI MP. Una telecamera a 1 MP ad alta velocità unita a una risoluzione verticale di 1/10 Å fornisce un'analisi incredibilmente dettagliata di tutti i tipi di superficie, da quelle estremamente ruvide a quelle estremamente lisce.
È possibile espandere incredibilmente le funzionalità di analisi senza aumentare la complessità dei programmi di analisi. È possibile misurare un'ampia gamma di componenti e superfici senza il fastidio di passare da una modalità di misurazione all'altra e senza l'ostacolo di una calibrazione intermedia della lente. Metodi, procedure e report standardizzati facilitano l'integrazione di CCI MP-HS nel sistema di gestione della qualità.
- Matrice da 1024 x 1024 pixel per FOV grandi ad alta risoluzione
- Giunzione di X, Y e Z avanzata che estende la portata di misurazione
- Ripetibilità RMS di <0,2 Å, ripetibilità dell'altezza di passo di <0.1%
- Sistema antivibrante per prestazioni ottimali in fatto di rumore
- Software per Windows 7 a 64 bit in più lingue
Ulteriori informazioni
Riepilogo download(Inglese)CCI HD
CCI HD è un profilometro 3D ottico senza contatto con funzionalità di misurazione di pellicole sottili e spesse. Questo strumento utilizza un algoritmo di correlazione innovativo e brevettato per trovare il picco di coerenza e sincronizzare la posizione di un modello di interferenza prodotto dalla nostra unità di scansione ottica di precisione.. Il nuovo CCI HD unisce una funzionalità di misurazione dimensionale senza contatto leader a livello mondiale con tecnologie per pellicole sottili e spesse.
CCI HD è stato progettato per offrire entrambi i tipi di misurazione dello spessore della pellicola oltre alle funzionalità dimensionali e di ruvidità. L'analisi di pellicole spesse è stata spesso utilizzata di recente per studiare i rivestimenti semi-trasparenti fino a circa 1,5 micron. Il limite dipende dall'indice di rifrazione dei materiali e dal NA dell'obiettivo. I rivestimenti più sottili si sono rivelati più ostici.
Ora è possibile studiare i rivestimenti di pellicole sottili fino a 50 nm (anche queste dipendenti dall'indice di rifrazione) tramite interferometria. Questo nuovo approccio permette lo studio di proprietà come lo spessore delle pellicole, la ruvidità dell'interfaccia, i difetti dei forellini e la delaminazione delle superfici rivestite sottili, e tutto ciò con una sola misurazione.
- Matrice da 2048 x 2048 pixel per FOV grandi ad alta risoluzione
- Risoluzione da 0,1 Å sull'intera portata di misurazione
- Possono venire utilizzate riflettività di superficie da 0,3 a 100%
- Ripetibilità RMS di <0,2 Å, ripetibilità dell'altezza di passo di <0.1%
- Software di controllo e di analisi a 64 bit in più lingue
